Zur Kontrolle und Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen können umfangreiche Meßsysteme bis hin zu Rasterelektronen-, Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopen benutzt werden. (Quelle: bmb+f Forschungslandkarte Deutschland 1998)
Bisher lassen sich nur mit Rastertunnelmikroskopen einzelne Atome mühselig zu kleinen Strukturen zusammenschieben. (Quelle: Spektrum der Wissenschaft 1999)
Die Verbindung von mehreren winzigen Rastertunnelmikroskopen, deren Spitzen gleichzeitig jeweils einen Teilbereich der mikroskopischen Oberflächen bearbeiten, kann das Verfahren erheblich beschleunigen, haben Cornell-Wissenschaftler jetzt herausgefunden. (Quelle: Spektrum der Wissenschaft 1998)
描隧道
微镜。
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